IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途：用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。  

全新升級(jí)版卡片彎曲扭曲測(cè)試儀由衡翼儀器研制*，該測(cè)試儀工位為15工位，其中5工位為長(zhǎng)邊彎曲，5工位為短邊彎曲，5工位為扭曲試驗(yàn)。將計(jì)數(shù)次數(shù)增加到9999次，計(jì)數(shù)方法采用非接處光電計(jì)數(shù)(傳統(tǒng)采用開(kāi)關(guān)量計(jì)數(shù))，將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉(zhuǎn)角度任意可調(diào)。

本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 完全符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)參數(shù)規(guī)格

測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測(cè)試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長(zhǎng)邊*位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊*小位移量為2mm±0.50mm，

短邊*位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊*小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸完全按照*標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W